| Цель изучения дисциплины | Представление характерных структурно-аналитических задач, решаемых методами электронной дифракции, просвечивающей электронной и сканирующей микроскопии и обучение слушателей навыкам постановки таких задач, и самостоятельного анализа структурного состояния фаз и материалов с использованием электронно-микроскопических данных и пакетов программ Mathcad, CaRIne Crystallograhy, ATOMS. |
|---|---|
| Место дисциплины в учебном плане | Б1.В.ДВ.02 |
| Формируемые компетенции | УК-1 | Знания, умения и навыки, получаемые в результате освоения дисциплины |
Знать:
физические принципы, лежащие в основе каждого из методов исследования твердых тел Уметь:
ориентироваться в современных методах исследования конденсированной материи Иметь навыки и (или) опыт деятельности (владеть):
знаниями о границах практического применения методов и их сопоставление |
| Содержание дисциплины | . |
| Виды учебной работы | Лекции, самостоятельная работа. |
| Используемые информационные, инструментальные и программные средства |
Open Office
MS Office, Word, Excel, PowerPoint, Access, MS Paint Adobe Photoshop WinRAR, WinZIP Far Manager, Total Commander Internet Explorer, Google Chrome Microsoft Windows AcrobatReader www.gpntb.ru/ Государственная публичная научно-техническая библиотека
www.nlr.ru/ Российская национальная библиотека Статьи из российских научных журналов. Адрес библиотеки: http://elibrary.ru/defaultx.asp www.rsl.ru/ Российская государственная библиотека www.e.lanbook.com www.elibrary.ru www.intuit.ru/ Образовательный сайт AUGER - http://irmt.ru/index.php/experbase/auger RFES http://irmt.ru/index.php/experbase/rfes SAM http://www.mikroskopia.ru/info/26.html http://www.femto.com.ua/articles/part_2/3680.html http://vestnik.osu.ru/2007_12/28.pdf TEM http://irmt.ru/index.php/experbase/tem |
| Форма промежуточной аттестации | Экзамен. |