Закреплена за кафедрой | Кафедра общей и экспериментальной физики |
---|---|
Направление подготовки | 03.04.02. Физика |
Профиль | Физические методы и информационные технологии в медицине |
Форма обучения | Очная |
Общая трудоемкость | 9 ЗЕТ |
Учебный план | 03_04_02_Мед-1-2020 |
|
|
Распределение часов по семестрам
Курс (семестр) | 1 (1) | 1 (2) | 2 (3) | Итого | ||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Недель | 19 | 13 | 11 | |||||
Вид занятий | УП | РПД | УП | РПД | УП | РПД | УП | РПД |
Лабораторные | 32 | 32 | 32 | 32 | 32 | 32 | 96 | 96 |
Сам. работа | 40 | 40 | 148 | 148 | 40 | 40 | 228 | 228 |
Итого | 72 | 72 | 180 | 180 | 72 | 72 | 324 | 324 |
Визирование РПД для исполнения в очередном учебном году
Рабочая программа пересмотрена, обсуждена и одобрена для
исполнения в 2020-2021 учебном году на заседании
кафедры
Кафедра общей и экспериментальной физики
Протокол от 15.06.2020 г. № 11
Заведующий кафедрой д-р физ.-мат. наук, профессор Плотников В.А.
1.1. | Дисциплина «Специальный физический практикум» обеспечивает приобретение знаний в соответствии с государственным образовательным стандартом, содействует фундаментализации образования и развитию логического мышления. Цель изучения дисциплины – формирование у студентов практических навыков по рентгеноструктурному и рентгенофазовому анализам материалов. Рассматриваются как классические, так и современные методы рентгеноструктурного анализа структурно‑фазового состояния материалов с использованием новейших программных комплексов. |
---|
Цикл (раздел) ООП: Б1.В.01 |
ОК-1 | способностью к абстрактному мышлению, анализу, синтезу |
ОК-3 | готовностью к саморазвитию, самореализации, использованию творческого потенциала |
ПК-1 | способностью самостоятельно ставить конкретные задачи научных исследований в области физики и решать их с помощью современной аппаратуры и информационных технологий с использованием новейшего российского и зарубежного опыта |
ПК-7 | способностью руководить научно-исследовательской деятельностью в области физики обучающихся по программам бакалавриата |
В результате освоения дисциплины обучающийся должен | |
3.1. | Знать: |
---|---|
3.1.1. | о различных типах кристаллических решеток вещества; фундаментальных принципы работы рентгеновской трубки; применение дефрактометров в важнейших практических приложениях |
3.2. | Уметь: |
3.2.1. | определять кристаллическую структуру вещества и ее характеристики; определять размеры областей когерентного рассеяния; определять фазовый состав исследуемого вещества; |
3.3. | Иметь навыки и (или) опыт деятельности (владеть): |
3.3.1. | навыками расчета параметров и характеристик кристаллической структуры вещества, навыками работы с дифрактометром, навыками работы с программно-аппаратным комплексом |
Код занятия | Наименование разделов и тем | Вид занятия | Семестр | Часов | Компетенции | Литература |
---|---|---|---|---|---|---|
Раздел 1. | ||||||
1.1. | Измерение коэффициентов пропускания, оптической плотности и коэффициентов отражения с помощью фотометра ФО-1 | Лабораторные | 1 | 6 | ОК-1, ОК-3 | Л3.1, Л1.1, Л1.2, Л2.3 |
1.2. | Измерение коэффициентов пропускания, оптической плотности и коэффициентов отражения с помощью фотометра ФО-1 | Сам. работа | 1 | 8 | ОК-3, ПК-1, ПК-7 | Л3.1, Л1.1, Л1.2, Л2.3 |
1.3. | Изучение регистрирующего микрофотометра ИФО-451. Измерение длины волны лазерного излучения | Лабораторные | 1 | 6 | ОК-1, ОК-3 | Л3.1, Л1.1, Л1.2, Л2.3 |
1.4. | Изучение регистрирующего микрофотометра ИФО-451. Измерение длины волны лазерного излучения | Сам. работа | 1 | 6 | ОК-3, ПК-1, ПК-7 | Л3.1, Л1.1, Л1.2, Л2.3 |
1.5. | Устройство спектрофотометра СФ -18 и снятие спектров пропускания | Лабораторные | 1 | 4 | ПК-1, ПК-7 | Л3.1, Л1.1, Л1.2, Л2.3 |
1.6. | Устройство спектрофотометра СФ -18 и снятие спектров пропускания | Сам. работа | 1 | 6 | ОК-3, ПК-1, ПК-7 | Л3.1, Л1.1, Л1.2, Л2.3 |
1.7. | Изучение спектрофотометра USB-4000 | Лабораторные | 1 | 4 | ОК-1, ОК-3, ПК-7 | Л3.1, Л1.1, Л1.2, Л2.3 |
1.8. | Изучение спектрофотометра USB-4000 | Сам. работа | 1 | 8 | ОК-1, ПК-1, ПК-7 | Л3.1, Л1.1, Л1.2, Л2.3 |
1.9. | Изучение линейного электрооптического эффекта | Лабораторные | 1 | 6 | ОК-1, ПК-1 | Л3.1, Л1.1, Л1.2, Л2.3 |
1.10. | Изучение линейного электрооптического эффекта | Сам. работа | 1 | 6 | ОК-1, ПК-1 | Л3.1, Л1.1, Л1.2, Л2.3 |
1.11. | Изучение полупроводникового лазера на основе p-n перехода | Лабораторные | 1 | 6 | ОК-1, ОК-3, ПК-1, ПК-7 | Л3.1, Л1.1, Л1.2, Л2.3 |
1.12. | Изучение полупроводникового лазера на основе p-n перехода | Сам. работа | 1 | 6 | ОК-1, ОК-3, ПК-1, ПК-7 | Л3.1, Л1.1, Л1.2, Л2.3 |
1.13. | Идентификация неизвестного кристаллического вещества по межплоскостным расстояниям | Лабораторные | 2 | 7 | ОК-1, ОК-3, ПК-1 | Л3.1, Л1.1, Л1.2, Л2.3, Л2.2, Л2.1 |
1.14. | Идентификация неизвестного кристаллического вещества по межплоскостным расстояниям | Сам. работа | 2 | 29 | ОК-1, ОК-3, ПК-7 | Л3.1, Л1.1, Л1.2, Л2.3, Л2.2, Л2.1 |
1.15. | Индицирование рентгенограмм веществ с кубической решёткой | Лабораторные | 2 | 7 | ОК-1, ОК-3, ПК-1 | Л3.1, Л1.1, Л1.2, Л2.3, Л2.2, Л2.1 |
1.16. | Индицирование рентгенограмм веществ с кубической решёткой | Сам. работа | 2 | 29 | ОК-1, ПК-1, ПК-7 | Л3.1, Л1.1, Л1.2, Л2.3, Л2.2, Л2.1 |
1.17. | Качественный фазовый рентгеноструктурный анализ | Лабораторные | 2 | 6 | ОК-1, ОК-3, ПК-1 | Л3.1, Л1.1, Л1.2, Л2.3, Л2.2, Л2.1 |
1.18. | Качественный фазовый рентгеноструктурный анализ | Сам. работа | 2 | 30 | ОК-1, ОК-3, ПК-1 | Л3.1, Л1.1, Л1.2, Л2.3, Л2.2, Л2.1 |
1.19. | Количественный фазовый рентгеноструктурный анализ двухфазных систем аналитическим методом | Сам. работа | 2 | 30 | ОК-3, ПК-1, ПК-7 | Л3.1, Л1.1, Л1.2, Л2.3, Л2.2, Л2.1 |
1.20. | Количественный фазовый рентгеноструктурный анализ двухфазных систем аналитическим методом | Лабораторные | 2 | 6 | ОК-1, ОК-3, ПК-1 | Л3.1, Л1.1, Л1.2, Л2.3, Л2.2, Л2.1 |
1.21. | Рентгеноструктурное исследование поликристаллов гексагональной сингонии на дифрактометре | Лабораторные | 2 | 6 | ОК-1, ОК-3, ПК-1 | Л3.1, Л1.1, Л1.2, Л2.3, Л2.2, Л2.1 |
1.22. | Рентгеноструктурное исследование поликристаллов гексагональной сингонии на дифрактометре | Сам. работа | 2 | 30 | ОК-1, ОК-3, ПК-1 | Л3.1, Л1.1, Л1.2, Л2.3, Л2.2, Л2.1 |
1.23. | Рентгеноструктурное исследование поликристаллов тетрагональной сингонии на дифрактометре | Лабораторные | 3 | 7 | ОК-1, ОК-3, ПК-1 | Л3.1, Л1.1, Л1.2, Л2.3, Л2.2, Л2.1 |
1.24. | Рентгеноструктурное исследование поликристаллов тетрагональной сингонии на дифрактометре | Сам. работа | 3 | 12 | ОК-1, ОК-3, ПК-1 | Л3.1, Л1.1, Л1.2, Л2.3, Л2.2, Л2.1 |
1.25. | Определение содержания углерода в мартенсите | Лабораторные | 3 | 8 | ОК-1, ОК-3, ПК-1 | Л3.1, Л1.1, Л1.2, Л2.3, Л2.2, Л2.1 |
1.26. | Определение содержания углерода в мартенсите | Сам. работа | 3 | 10 | ОК-1, ОК-3, ПК-1 | Л3.1, Л1.1, Л1.2, Л2.3, Л2.2, Л2.1 |
1.27. | Рентгенометрическое определение толщины защитных металлических покрытий на поверхности другого металла | Лабораторные | 3 | 8 | ОК-1, ОК-3, ПК-1 | Л3.1, Л1.1, Л1.2, Л2.3, Л2.2, Л2.1 |
1.28. | Рентгенометрическое определение толщины защитных металлических покрытий на поверхности другого металла | Сам. работа | 3 | 9 | ОК-1, ОК-3, ПК-1 | Л3.1, Л1.1, Л1.2, Л2.3, Л2.2, Л2.1 |
1.29. | Определение характеристик тонкой структуры кристаллических образцов | Лабораторные | 3 | 9 | ОК-1, ОК-3, ПК-1 | Л3.1, Л1.1, Л1.2, Л2.3, Л2.2, Л2.1 |
1.30. | Определение характеристик тонкой структуры кристаллических образцов | Сам. работа | 3 | 9 | ОК-1, ОК-3, ПК-1 | Л3.1, Л1.1, Л1.2, Л2.3, Л2.2, Л2.1 |
5.1. Контрольные вопросы и задания для проведения текущего контроля и промежуточной аттестации по итогам освоения дисциплины |
1) Теоретические основы рентгеноструктурных исследований вещества. 2) Рентгеновские лучи. 3) Взаимодействие рентгеновских лучей с веществом 4) Рентгеновская трубка 5) Основные узлы и характеристики дифрактометров общего назначения. 6) Идентификация неизвестного кристаллического вещества по межплоскостным расстояниям. 7) Индицирование рентгенограмм веществ с кубической решёткой. 8) Качественный фазовый рентгеноструктурный анализ 9) Количественный фазовый рентгеноструктурный анализ двухфазных систем аналитическим методом. 10) Метод эталонного образца. 11) Метод гомологических пар. 12) Рентгеноструктурное исследование поликристаллов гексагональной сингонии на дифрактометре 13) Рентгеноструктурное исследование поликристаллов тетрагональной сингонии на дифрактометре. 14) Решётка Браве тетрагональной сингонии 15) Определение содержания углерода в мартенсите. 16) Рентгенометрическое определение толщины защитных металлических покрытий на поверхности другого металла. 17) Определение характеристик тонкой структуры кристаллических образцов. 18) Определение физического уширения рентгеновских линий с применением стандартного образца 19) Рентгеноструктурное исследование поликристаллов кубической сингонии без поглотителя. 20) Рентгендифрактометрический анализ кристаллических текстур. 21) Оценка плотности дислокаций в кристаллах кубической сингонии. |
5.2. Темы письменных работ для проведения текущего контроля (эссе, рефераты, курсовые работы и др.) |
Не предусмотрены |
5.3. Фонд оценочных средств для проведения промежуточной аттестации |
Контрольно-оценочные материалы (КОМ), позволяющие оценить знания, умения и уровень приобретенных компетенций, оформленные в виде модулей с заданиями для оценки освоения дисциплины " Специальный физический практикум ". Каждый оценочный материал (модуль) обеспечивает проверку освоения конкретных разделов дисциплины, формируемых этим разделом компетенций и (или) их элементов: знаний, умений. |
6.1. Рекомендуемая литература | ||||
6.1.1. Основная литература | ||||
Авторы | Заглавие | Издательство, год | Эл. адрес | |
Л1.1 | Вознесенский Э.Ф., Шарифуллин Ф.С., Абдуллин И.Ш. | Методы структурных исследований материалов. Методы микроскопии [Электронный ресурс]: учебное пособие | Казань : КНИТУ, 2014 | http://biblioclub.ru/index.php?page=book&id=428294 |
Л1.2 | Газенаур Е.Г., Кузьмина Л.В., Крашенинин В.И. | Методы исследования материалов [Электронный ресурс]: учебное пособие | Кемерово : Кемеровский государственный университет, 2013 | http://biblioclub.ru/index.php?page=book&id=232447 |
6.1.2. Дополнительная литература | ||||
Авторы | Заглавие | Издательство, год | Эл. адрес | |
Л2.1 | Неволин В.К. | Зондовые нанотехнологии в электронике [Электронный ресурс]: монография | М.: Техносфера, 2014 | biblioclub.ru |
Л2.2 | Гусев А.И. | Наноматериалы, наноструктуры, нанотехнологии [Электронный ресурс]: монография | М.: Физматлит, 2009 | biblioclub.ru |
Л2.3 | Филимонова Н.И., Кольцов Б.Б. | Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов и структур: сканирующая зондовая микроскопия [Электронный ресурс]: учебное пособие | Новосибирск : НГТУ, 2013 | biblioclub.ru |
6.1.3. Дополнительные источники | ||||
Авторы | Заглавие | Издательство, год | Эл. адрес | |
Л3.1 | С.В. Макаров, В.А. Плотников | Специальный физический практикум: учеб. метод. пособ. | АлтГУ, 2007 | |
6.2. Перечень ресурсов информационно-телекоммуникационной сети "Интернет" | ||||
Название | Эл. адрес | |||
Э1 | Специальный физический практикум, автор Богданов Д.Г. | portal.edu.asu.ru | ||
6.3. Перечень программного обеспечения | ||||
MSExcel WinRAR, WinZIP Far Manager, Total Commander Internet Explorer, Opera, Mozilla Microsoft Windows AcrobatReader | ||||
6.4. Перечень информационных справочных систем | ||||
www.gpntb.ru/ Государственная публичная научно-техническая библиотека. www.nlr.ru/ Российская национальная библиотека. www.nns.ru/ Национальная электронная библиотека. www.rsl.ru/ Российская государственная библиотека. www.microinform.ru/ Учебный центр компьютерных технологий «Микроинформ». www.tests.specialist.ru/ Центр компьютерного обучения МГТУ им. Н.Э.Баумана. www.intuit.ru/ Образовательный сайт www.window.edu.ru/ Библиотека учебной и методической литературы www.osp.ru/ Журнал «Открытые системы» www.ihtika.lib.ru/ Библиотека учебной и методической литературы news.rea.ru/portal/Departments.nsf/(Index)/Lib Библиотека Российской экономической академии им. Плеханова. |
Аудитория | Назначение | Оборудование |
---|---|---|
001вК | склад экспериментальной мастерской - помещение для хранения и профилактического обслуживания учебного оборудования | Акустический прибор 01021; виброизмеритель 00032; вольтметр Q1202 Э-500; вольтметр универсальный В7-34А; камера ВФУ -1; компьютер Турбо 86М; масспектрометр МРС -1; осциллограф ЕО -213- 2 ед.; осциллограф С1-91; осциллограф С7-19; программатор С-815; самописец 02060 – 2 ед.; стабилизатор 3218; терц-октавный фильтр 01023; шкаф вытяжной; шумомер 00026; анализатор АС-817; блок 23 Г-51; блок питания "Статрон" – 2 ед.; блок питания Ф 5075; вакуумный агрегат; весы; вольтметр VM -70; вольтметр В7-15; вольтметр В7-16; вольтметр ВУ-15; генератор Г-5-6А; генератор Г4-76А; генератор Г4-79; генератор Г5-48; датчик колебаний КВ -11/01; датчик колебаний КР -45/01; делитель Ф5093; измеритель ИМП -2; измеритель параметров Л2-12; интерферометр ИТ 51-30; источник "Агат" – 3 ед.; источник питания; источник питания 3222; источник питания ЭСВ -4; лабораторная установка для настройки газовых лазеров; лазер ЛГИ -21; М-кальк-р МК-44; М-калькул-р "Электроника"; магазин сопротивления Р4075; магазин сопротивления Р4077; микроскоп МБС -9; модулятор МДЕ; монохроматор СДМС -97; мост переменного тока Р5066; набор цветных стекол; насос вакумный; насос вакуумный ВН-01; осциллограф С1-31; осциллограф С1-67; осциллограф С1-70; осциллограф С1-81; осциллоскоп ЕО -174В – 2 ед.; пентакта L-100; пирометр "Промень"; пистонфон 05001; преобразователь В9-1; прибор УЗДН -2Т; скамья оптическая СО 1м; спектограф ДФС -452; спектограф ИСП -51; стабилизатор 1202; стабилизатор 3217 – 4 ед.; стабилизатор 3218; стабилизатор 3222 – 3 ед.; станок токарный ТВ-4; усилитель мощности ЛВ -103 – 4 ед.; усилитель У5-9; центрифуга ВЛ-15; частотомер Ч3-54А; шкаф металлический; эл.двигатель; электродинамический калибратор 11032 |
Помещение для самостоятельной работы | помещение для самостоятельной работы обучающихся | Компьютеры, ноутбуки с подключением к информационно-телекоммуникационной сети «Интернет», доступом в электронную информационно-образовательную среду АлтГУ |
Учебная аудитория | для проведения занятий лекционного типа, занятий семинарского типа (лабораторных и(или) практических), групповых и индивидуальных консультаций, текущего контроля и промежуточной аттестации, курсового проектирования (выполнения курсовых работ), проведения практик | Стандартное оборудование (учебная мебель для обучающихся, рабочее место преподавателя, доска, мультимедийное оборудование стационарное или переносное) |
315К | лаборатория спектрального анализа - учебная аудитория для проведения занятий семинарского типа (лабораторных и(или) практических); проведения групповых и индивидуальных консультаций, текущего контроля и промежуточной аттестации | Учебная мебель на 10 посадочных мест; рабочее место преподавателя; генератор сигналов низкочастотный Г3-112; двухкоординатный самописец ЭНДИМ 62201; измеритель ОСИСМ; комплект КСВУ-23 (МДР-23); модулятор МЛ-102; монохроматор МУМ; монохроматор МУМ-2; монохроматор МУМ-2; осциллограф ЕО - 213; осциллограф ЕО-213; осциллограф ЕО-213; прибор ИЛД-2; самописец "Эндим"; самописец "Эндим"; самописец 02060; фотометр отражения ФО-1 УХЛ-4-2; экспозиметр коротких импульсов ЭКН (ЭКИ); бак эм.; блок питания Б5-44а; весы торсионные ВТ-500; Вольтметр В7-16; Генератор Г5-54; Источник высокочастотный TV-2; Источник питания "Агат"; Источник питания Статрон 3221; Лаб.стабилиз.источник питания ТЕС-18 НТР; Лаб.Энергетические временные и пространс; Лампа настольная; Микроскоп МБС-10; Микрофотометр ИФО-451; Монохроматор СДМС; Монохроматор УМ-2; Осциллограф ЕО-211; Осциллограф С1-48Б; Спектрофотометр СФ - 18; Стабилизатор 3217; Усилитель VL-103; Усилитель VL-103; Усилитель VL-103; Усилитель У5-9; Фотометр ФМП-02; Фотометр ФОУ-1; Учебные наглядные пособия: "Лабораторный практикум по оптике и лазерной физике в медицине"; "Оптика и лазерная физика в медицине. Оптические квантовые генераторы. Медицинские лазерные системы". |
002К | лаборатория физического материаловедения - учебная аудитория для проведения занятий семинарского типа (лабораторных и(или) практических); проведения групповых и индивидуальных консультаций, текущего контроля и промежуточной аттестации | Учебная мебель на 10 посадочных мест; рабочее место преподавателя; доски меловые 1шт. лазер ЛТИ502; лазер ЛТН-103; лазерная установка HTS 300; микроскоп металлографический Метам РВ-23; микроскоп НЕОФОТ -32; моноблок RAMEC Gale Custom G1610/ H61M-DG3/4 Гб ОЗУ/500 Гб НЖМД; насадка для микроскопа VEC-535 цветная в/к ПЗС-матрица 1/1,8" 1700ТВ лин 1,0Iuх; ноутбук Acer TM424WXMi Cel-M(380) 1,6GHz/14,1" WXGA/512Mb/60Gb/DVD-RW/LAN/Wlan b; оптико-электронная система (сканирующий зондовый микроскоп) Солвер Некст; проектор: Epson EMP-TW10H (V11H164040); системный блок Celeron 1000/128/FDD/HDD; системный блок P IV - 1800 Celeron/ 256 Mb/60 Gb/AGP 32/CD/Net/SB/SPK; термостат; установка "Дрон-3"; блок БВЦ 97-04; блок БГА-2-97; блок БПВ2-90; блок Д3У2-91; блок питания БНН-43; блок УВЦ-2-95; вакуумный пост универсальный ВУП-5; компьютер Intel Core i3-4160 3600MHz/HDD 1Tb/DDR3 DIMM 16Gb(2x8Db); компьютер Intel Core i3-4160 3600MHz/HDD 1Tb/DDR3 DIMM 16Gb(2x8Db); компьютер Intel Pentinm G3420 3200 MHz/DDR3 DIMM 4Gb/монитор 22"LG 22MP55HQ-P; компьютер Intel Pentinm G3420 3200 MHz/DDR3 DIMM 4Gb/монитор 22"LG 22MP55HQ-P; компьютер Intel Pentium G3420 3200MHz 3Mb/DDR3 DIMM 4Gb/монитор 22"LG 22MP55HQ-P; компьютер Intel Pentium G3420 3200MHz 3Mb/DDR3 DIMM 4Gb/монитор 22"LG 22MP55HQ-P; компьютер Intel Pentium G3420 3200MHz3Mb/DDR3 DIMM 4Gb/монитор 22"LG 22MP55HQ-P; микрокомпьютер Tandy 1000HX; монитор 15" RoverScan 115GS 0.28 TCO95; монитор 15" Samsung 550 S.28; монитор 17" Philips TFT; ноутбук ASUS BU401LG 14"HD,Ci7-4500U, 8192Mb,1Tb,GT730M-2Gb,WiFi, BT, Cam, W8Pro; ноутбук Asus K50IN (2,2GHz/4Gb/320Gb/DVD-RW/Bluetooth/факс-модем/веб камера; преобразователь акустической эмиссии; прибор АМА-0,2ф1; принтер HP LJ 1150; самописец 62201; система магнетронного напыления МАГ-2000; системный блок Celeron 733 INTEL; системный блок P - IV 3000MHz/Плата ЛА-2USB/АЦП ЛА-н150-14PCI; сканер HP SJ 6300; сканер ч/б; спектрофонометр 6ф-20; усилитель напряжения сигналов преобразователей акустической эмиссии; учебные наглядные пособия: "Лабораторные работы по физическому материаловедению"; "Специальный физический практикум по сканирующей зондовой микроскопии"" "Специальный физический практикум. Акустическая эмиссия в физике конденсированного состояния" |
см.приложение (ФОС) |