| Закреплена за кафедрой | Кафедра общей и экспериментальной физики |
|---|---|
| Направление подготовки | 03.04.02. Физика |
| Профиль | Физика наносистем |
| Форма обучения | Очная |
| Общая трудоемкость | 4 ЗЕТ |
| Учебный план | 03_04_02_ФН-1-2020 |
|
|
||||||||||||
Распределение часов по семестрам
| Курс (семестр) | 2 (3) | Итого | ||
|---|---|---|---|---|
| Недель | 11 | |||
| Вид занятий | УП | РПД | УП | РПД |
| Лабораторные | 42 | 42 | 42 | 42 |
| Сам. работа | 102 | 102 | 102 | 102 |
| Итого | 144 | 144 | 144 | 144 |
Визирование РПД для исполнения в очередном учебном году
Рабочая программа пересмотрена, обсуждена и одобрена для
исполнения в 2020-2021 учебном году на заседании
кафедры
Кафедра общей и экспериментальной физики
Протокол от 15.06.2020 г. № 11
Заведующий кафедрой д-р физ.-мат. наук, профессор Плотников В.А.
| 1.1. | Целью специального практикума является изучение основ сканирующей зондовой микроскопии. Рассмотрены основы сканирующей зондовой микроскопии (принципы СЗМ, основные компоненты СЗМ и их назначение). Знакомство с конструкцией СЗМ Солвер Некст (общая конструкция, универсальный датчик туннельного тока и силового взаимодействия, СЗМ сканер, механизм подвода зонда к образцу). Знакомство с программой управления прибором Солвер Некст (режим получения и режим обработки данных, работа со сканирующим силовым микроскопом (ССМ) и сканирующим туннельным микроскопом (СТМ)). |
|---|
| Цикл (раздел) ООП: Б1.В.ДВ.01.02 |
| ОПК-6 | способностью использовать знания современных проблем и новейших достижений физики в научно-исследовательской работе |
| ПК-1 | способностью самостоятельно ставить конкретные задачи научных исследований в области физики и решать их с помощью современной аппаратуры и информационных технологий с использованием новейшего российского и зарубежного опыта |
| В результате освоения дисциплины обучающийся должен | |
| 3.1. | Знать: |
|---|---|
| 3.1.1. | основные методы получения материалов. Основы организации и планирования эксперимента с целью формирования информационной базы данных о явлениях и процессах |
| 3.2. | Уметь: |
| 3.2.1. | использовать новейшие достижения в физики в научно-исследовательской деятельности. Использовать информационный банк данных о физических процессах и явлениях с целью создания новых материалов с заданными свойствами |
| 3.3. | Иметь навыки и (или) опыт деятельности (владеть): |
| 3.3.1. | владеть основными навыками постановки задачи в научно-исследовательской деятельности. Профессиональными навыками в организации и планировании физических исследований. |
| Код занятия | Наименование разделов и тем | Вид занятия | Семестр | Часов | Компетенции | Литература |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Раздел 1. | ||||||
| 1.1. | Изучение работы сканирующего зондового микроскопа Солвер Некст. Подготовка микроскопа к работе. | Лабораторные | 3 | 8 | ОПК-6, ПК-1 | Л3.1, Л2.1, Л1.1, Л2.2 |
| 1.2. | Изучение работы сканирующего зондового микроскопа Солвер Некст. Подготовка микроскопа к работе. | Сам. работа | 3 | 16 | ОПК-6, ПК-1 | Л2.1, Л1.1, Л2.2 |
| 1.3. | Исследование поверхности твёрдых тел методом атомно-силовой микроскопии в контактном режиме: метод постоянной силы; метод латеральных сил. | Лабораторные | 3 | 8 | ОПК-6, ПК-1 | Л3.1, Л2.1, Л1.1, Л2.2 |
| 1.4. | Исследование поверхности твёрдых тел методом атомно-силовой микроскопии в контактном режиме: метод постоянной силы; метод латеральных сил. | Сам. работа | 3 | 17 | ОПК-6, ПК-1 | Л2.1, Л1.1, Л2.2 |
| 1.5. | Исследование поверхности твёрдых тел методом атомно-силовой микроскопии в полуконтактном режиме | Лабораторные | 3 | 8 | ОПК-6, ПК-1 | Л3.1, Л2.1, Л1.1, Л2.2 |
| 1.6. | Исследование поверхности твёрдых тел методом атомно-силовой микроскопии в полуконтактном режиме | Сам. работа | 3 | 16 | ОПК-6, ПК-1 | Л2.1, Л1.1, Л2.2 |
| 1.7. | Исследование поверхности электропроводящих твёрдых тел методом сканирующей туннельной микроскопии: метод постоянного тока; метод постоянной высоты | Лабораторные | 3 | 6 | ОПК-6, ПК-1 | Л3.1, Л2.1, Л1.1, Л2.2 |
| 1.8. | Исследование поверхности электропроводящих твёрдых тел методом сканирующей туннельной микроскопии: метод постоянного тока; метод постоянной высоты | Сам. работа | 3 | 12 | ОПК-6, ПК-1 | Л2.1, Л1.1, Л2.2 |
| 1.9. | Артефакты сканирующей зондовой микроскопии | Лабораторные | 3 | 4 | ОПК-6, ПК-1 | Л3.1, Л2.1, Л1.1, Л2.2 |
| 1.10. | Артефакты сканирующей зондовой микроскопии | Сам. работа | 3 | 13 | ОПК-6, ПК-1 | Л2.1, Л1.1, Л2.2 |
| 1.11. | Обработка и количественный анализ СЗМ изображения | Лабораторные | 3 | 4 | ОПК-6, ПК-1 | Л3.1, Л2.1, Л1.1, Л2.2 |
| 1.12. | Обработка и количественный анализ СЗМ изображения | Сам. работа | 3 | 12 | ОПК-6, ПК-1 | Л2.1, Л1.1, Л2.2 |
| 1.13. | Сканирующая зондовая литография | Лабораторные | 3 | 4 | ОПК-6, ПК-1 | Л3.1, Л2.1, Л1.1, Л2.2 |
| 1.14. | Сканирующая зондовая литография | Сам. работа | 3 | 16 | ОПК-6, ПК-1 | Л2.1, Л1.1, Л2.2 |
| 5.1. Контрольные вопросы и задания для проведения текущего контроля и промежуточной аттестации по итогам освоения дисциплины |
| 1. Первый и второй закон термодинамики. Химический потенциал. 2. Строение идеальных кристаллов. Типы решеток и их характеристики. 3. Энтропия смешения. 4. Индексы плоскостей и направлений. 5. Растворимость. 6. Межатомное взаимодействие. Приближение парных взаимодействий. 7. Правило фаз Гиббса. 8. Потенциалы парных взаимодействий. 9. Условия равновесия. Константа равновесия. 10. Константы (материалов) и потенциалы парного взаимодействия 11. Поверхностные эффекты. Термодинамика процессов. 12. Ионная, металлическая, ковалентная и молекулярная связь. 13. Диаграммы состояния. 14. Основные характеристики кристаллов, связанные с кристаллической решеткой. 15. Промежуточные фазы, фазы Лавеса 16. Распределение металлов по группам и их свойства. 17. Ограниченные твердые растворы. 18. Изменение Tпл, сжимаемости, атомного размера в зависимости от подгруппы в периодической системе. 19. Упорядоченные твердые растворы 20. Аллотропия. 21. Диаграммы состояния систем с неограниченной растворимостью. 22. Дефекты кристаллической решетки и их классификация. 23. Диаграммы состояния систем с ограниченной растворимостью. 24. Дислокации. Типы и их характеристики. 25. Диаграммы состояния систем с промежуточными фазами. 26. Двумерные и трехмерные дефекты. 27. Системы с превращениями в твердом состоянии. Диаграммы состояния. 28. Напряжение. Образование дислокаций. 29. Диаграмма “железо-цементит”. Перетектическое превращение. 30. Движение дислокаций. 31. Диаграмма “железо-цементит”. Эвтектическое превращение. 32. Напряжение, создаваемое дислокацией в кристалле. Энергия дислокации. 33. Диаграмма “железо-цементит”. Эвтектоидное превращение. 34. Взаимодействие дислокации с точечными дефектами. 35. Мартенситное превращение. 36. Дефекты: границы зерен, поверхность. 37. Превращения аустенита при непрерывном охлаждении. 38. Тензор деформации. Относительная и истинная деформация. 39. Описание деформации в анизотропных твердых телах. 40. Превращения в чугунах при охлаждении. 41. Диаграмма “напряжение - деформация”. Процессы на различных участках зависимости σ-ε. 42. Испытания на разрыв. Характеристики металлов, получаемые при испытании на разрыв. 43. Диаграмма “напряжение - деформация”. Процессы на различных участках зависимости σ-ε. 44. Диаграмма “напряжение - деформация”. Процессы на различных участках зависимости σ-ε. 45. Испытания на изгиб. Характеристики металлов, получаемые при испытании на изгиб. 46. Диаграмма “напряжение - деформация”. Процессы на различных участках зависимости σ-ε. 47. Испытания на твердость. Твердость по Бринеллю, Роквеллу, Викерсу. 48. Хрупкое разрушение. Модель Гриффитса. 49. Усталость металлов. |
| 5.2. Темы письменных работ для проведения текущего контроля (эссе, рефераты, курсовые работы и др.) |
| Свойства, строение общая характеристика и методы исследования металлов. Кристаллизация металлов. Строение металлического слитка. Механические свойства и пластическая деформация. Виды прочности. Влияние различных факторов на прочность и пластичность металлов и пути их увеличения. Наклеп и рекристаллизация. Строение металлических сплавов и диаграмма состояния. Классификация металлических сплавов. Простейшие бинарные диаграммы состояния. Строение железоуглеродистых сплавов и диаграмма состояния системы «железо – углерод». Маркировка сплавов. Основы теории легирования стали. Маркировка сплавов. Чугуны. Серые, ковкие и высокопрочные чугуны; влияние формы графитовых включений на их свойства. Легированный чугун. Теория термической обработки стали. Классификация видов термической обработки по А. А. Бочвару. Диффузия и ее основные закономерности. Превращения при отпуске закаленной стали. Свойства термически обработанной стали. Практика термической обработки стали. Пороки термически обработанной стали и способы их устранения. Химико-термическая обработка: цементация, азотирование, цианирование, диффузионная металлизация. Цветные металлы и сплавы на их основе. Требования Регистра России. Медь и ее сплавы. Латуни, бронзы, их свойства и применение. Алюминий и его сплавы. Титан и его сплавы. Термообработка сплавов. Жидкие кристаллы. Строение, cвойства, применение. Чистые и сверхчистые вещества. Получение, свойства, применение. Аморфные металлы. Структура, получение, свойства. Стойкие и сверхстойкие материалы. Виды, свойства, применение. Композиционные материалы. Структура, классификация, назначение Строительные материалы. Виды, структура, свойства, применение. Электротехнические материалы. Виды, свойства, применение. Технология обработки волокнистых материалов. Электрофизические методы обработки материалов. Эффект памяти формы. Сущность, особенности, применение. Металлургия цветных металлов. Методы исследования строения и свойств материалов. Обработка материалов взрывом. Плазменная обработка материалов. Коррозия и методы борьбы с ней. |
| 5.3. Фонд оценочных средств для проведения промежуточной аттестации |
| 1.Строение металлов и сплавов 2.Строение и свойства металлов 3.Состав и строение металлов и сплавов 4.Явление, при котором вещества, состоящие из одного и того же элемента, имеют разные свойства, называется: а)Аллотропией б)Кристаллизацией в)Сплавом 5. Вещество, в состав которого входят два или несколько компонентов, называется: а)Металлом б)Сплавом в)Кристаллической решеткой 6.Вес одного кубического сантиметра металла в граммах, называется: а)Удельным весом б)Теплоемкостью в)Тепловое (термическое) расширение 7.Способность металлов увеличивать свои размеры при нагревании, называется: а)Теплоемкостью б)Плавлением в)Тепловое (термическое) расширение 8.Тип кристаллической решетки: а)ГЦК б)ПГУ в)ОЦК 9.Способность металлов противостоять разрушающему действию кислорода во время нагрева, называется: а)Кислотостойкостью б)Жаростойкостью в)Жаропрочностью 10.Явление разрушения металлов под действием окружающей среды, называется: а)Жаростойкостью б)Жаропрочностью в)Коррозией 11.Механические свойства металлов это: а)Кислотостойкость и жаростойкость б)Жаропрочность и пластичность в)Теплоемкость и плавление 12.Способность металлов не разрушаться под действием нагрузок, называется: а)Упругостью б)Прочностью в)Пластичностью 13.Способность металлов, не разрушаясь, изменять под действием внешних сил свою форму и сохранять измененную форму после прекращения действия сил, называется: а)Упругостью б)Пределом прочности в)Пластичностью 14.Способность металлов сопротивляться вдавливанию в них какого либо тела, называется: а)Твердостью б)Пластичностью в)Упругостью 15.Способность металлов не разрушаться под действием нагрузок в условиях высоких температур, называется: а)Жаростойкостью б)Плавлением в)Жаропрочностью 16.В сером чугуне углерод находится в виде: а)В виде графита б)В виде цементита 17.Сталь более высокого качества получается: а)В электропечах б)В доменных печах в)В мартеновских печах 18.Сплав железа с углеродом, при содержании углерода менее 2,14%, называется: а)Чугун б)Сталь в)Латунь 19.«Вредные» примеси в сталях, это: а)Сера и фосфор б)Марганец и кремний в)Железо и углерод 20.Марка быстрорежущей стали: а)9ХФ б)У 12 в)Р 18 21.Какая из этих сталей легированная? а)У7А б)Сталь 45сп в)38ГН2Ю2 22.Какая из этих сталей имеет 0,42% углерода, марганца менее 2%, кремния 2%, алюминия 3%? а)42Мц2СЮ б)42МцС2Ю3 в)42С2Ю3 23.Какая из этих сталей полуспокойная? а)Сталь 85пс б)Сталь 45сп в)Сталь 55кп 24.Марка серого чугуна: а)СЧ24-44 б)КЧ45-6 в)ИЧХ12Г3М 25.Нагрев изделия до определенной температуры, выдержка при этой температуры и медленное охлаждение, это: а)Закалка б)Нормализация в)Отжиг 26.Нагревание изделие до определенной температуры, выдержка и быстрое охлаждение с помощью охлаждающей среды, это: а)Закалка б)Отжиг в)Нормализация 27.Закалка и последующий отпуск, это: а)Термическая обработка б)Прокаливаемость в)Термическое улучшение 28.Нагревание стального изделия в среде легко отдающей углерод (древесный уголь), это: а)Азотирование б)Цементация в)Алитирование |
| 6.1. Рекомендуемая литература | ||||
| 6.1.1. Основная литература | ||||
| Авторы | Заглавие | Издательство, год | Эл. адрес | |
| Л1.1 | Золоторевский Н.Ю., Рыбин В.В. | Материаловедение. Фрагментация и текстурообразование при деформации металлических материалов [Электронный ресурс]: Учебное пособие для вузов | М. : Юрайт, 2018 | biblio-online.ru |
| 6.1.2. Дополнительная литература | ||||
| Авторы | Заглавие | Издательство, год | Эл. адрес | |
| Л2.1 | Гуртов В. А. , Осауленко Р. Н. | Физика твердого тела для инженеров [Электронный ресурс]: учебное пособие | М.: Техносфера, 2012 | biblioclub.ru |
| Л2.2 | Кудреватых Н.В., Волегов А.С. | Физика металлов. Редкоземельные металлы и их соединения [Электронный ресурс]: учебное пособие для вузов | М. : Юрайт, 2018 | biblio-online.ru |
| 6.1.3. Дополнительные источники | ||||
| Авторы | Заглавие | Издательство, год | Эл. адрес | |
| Л3.1 | С.В. Макаров, В.А. Плотников | Спецпрактикум: учеб. метод. пособ. | АлтГУ, 2007 | |
| 6.2. Перечень ресурсов информационно-телекоммуникационной сети "Интернет" | ||||
| 6.3. Перечень программного обеспечения | ||||
| Microsoft Office 2010 №лицензии 60674416 (бессрочная) OriginLab Origin Pro 8.0 (OriginLab), 2008-2012 г. - бесплатный софт MatLAB 7 (MathWorks), 2010-2012 г. - бесплатный софт MathCAD 14/15 (Parametric Technology Corporation), 2007-2012 гг. - бесплатный софт Mathematica (Wolfram Research, Inc www.wolfram.com.)- бесплатный софт Google SketchUp - бесплатный софт 3DCrafter - бесплатный софт Art of Illusion - бесплатный софт Creo Elements / Direct - ранее CoCreate - бесплатный софт DrawPlus Starter Edition - бесплатный софт FreeCAD - бесплатный софт GLC Player - бесплатный софт Netfabb Studio Basic - бесплатный софт K-3D - бесплатный софт OpenSCAD - бесплатный софт Tinkercad - бесплатный софт AutoCAD 2016 - бесплатный софт Google SketchUp 2016 2016 16.0.19911 - бесплатный софт Autodesk 3ds Max 2016 18.0 Autodesk 3ds Max (3D Studio Max) 2016 18.0 - бесплатный софт Ashampoo 3D CAD Architecture 5.0.0 Ashampoo 3D CAD Architecture 5.0.0 - бесплатный софт Wings 3D 1.5.4 Wings 3D 1.5.4 - бесплатный софт ZWCAD 2015 ZWCAD 2015 - бесплатный софт Microsoft Windows 7-Zip AcrobatReader | ||||
| 6.4. Перечень информационных справочных систем | ||||
| www.gpntb.ru/ Государственная публичная научно-техническая библиотека. www.nlr.ru/ Российская национальная библиотека. www.nns.ru/ Национальная электронная библиотека. www.rsl.ru/ Российская государственная библиотека. www.microinform.ru/ Учебный центр компьютерных технологий «Микроинформ». www.tests.specialist.ru/ Центр компьютерного обучения МГТУ им. Н.Э.Баумана. www.intuit.ru/ Образовательный сайт www.window.edu.ru/ Библиотека учебной и методической литературы www.osp.ru/ Журнал «Открытые системы» www.ihtika.lib.ru/ Библиотека учебной и методической литературы news.rea.ru/portal/Departments.nsf/(Index)/Lib Библиотека Российской экономической академии им. Плехан | ||||
| Аудитория | Назначение | Оборудование |
|---|---|---|
| 001вК | склад экспериментальной мастерской - помещение для хранения и профилактического обслуживания учебного оборудования | Акустический прибор 01021; виброизмеритель 00032; вольтметр Q1202 Э-500; вольтметр универсальный В7-34А; камера ВФУ -1; компьютер Турбо 86М; масспектрометр МРС -1; осциллограф ЕО -213- 2 ед.; осциллограф С1-91; осциллограф С7-19; программатор С-815; самописец 02060 – 2 ед.; стабилизатор 3218; терц-октавный фильтр 01023; шкаф вытяжной; шумомер 00026; анализатор АС-817; блок 23 Г-51; блок питания "Статрон" – 2 ед.; блок питания Ф 5075; вакуумный агрегат; весы; вольтметр VM -70; вольтметр В7-15; вольтметр В7-16; вольтметр ВУ-15; генератор Г-5-6А; генератор Г4-76А; генератор Г4-79; генератор Г5-48; датчик колебаний КВ -11/01; датчик колебаний КР -45/01; делитель Ф5093; измеритель ИМП -2; измеритель параметров Л2-12; интерферометр ИТ 51-30; источник "Агат" – 3 ед.; источник питания; источник питания 3222; источник питания ЭСВ -4; лабораторная установка для настройки газовых лазеров; лазер ЛГИ -21; М-кальк-р МК-44; М-калькул-р "Электроника"; магазин сопротивления Р4075; магазин сопротивления Р4077; микроскоп МБС -9; модулятор МДЕ; монохроматор СДМС -97; мост переменного тока Р5066; набор цветных стекол; насос вакумный; насос вакуумный ВН-01; осциллограф С1-31; осциллограф С1-67; осциллограф С1-70; осциллограф С1-81; осциллоскоп ЕО -174В – 2 ед.; пентакта L-100; пирометр "Промень"; пистонфон 05001; преобразователь В9-1; прибор УЗДН -2Т; скамья оптическая СО 1м; спектограф ДФС -452; спектограф ИСП -51; стабилизатор 1202; стабилизатор 3217 – 4 ед.; стабилизатор 3218; стабилизатор 3222 – 3 ед.; станок токарный ТВ-4; усилитель мощности ЛВ -103 – 4 ед.; усилитель У5-9; центрифуга ВЛ-15; частотомер Ч3-54А; шкаф металлический; эл.двигатель; электродинамический калибратор 11032 |
| Помещение для самостоятельной работы | помещение для самостоятельной работы обучающихся | Компьютеры, ноутбуки с подключением к информационно-телекоммуникационной сети «Интернет», доступом в электронную информационно-образовательную среду АлтГУ |
| 315К | лаборатория спектрального анализа - учебная аудитория для проведения занятий семинарского типа (лабораторных и(или) практических); проведения групповых и индивидуальных консультаций, текущего контроля и промежуточной аттестации | Учебная мебель на 10 посадочных мест; рабочее место преподавателя; генератор сигналов низкочастотный Г3-112; двухкоординатный самописец ЭНДИМ 62201; измеритель ОСИСМ; комплект КСВУ-23 (МДР-23); модулятор МЛ-102; монохроматор МУМ; монохроматор МУМ-2; монохроматор МУМ-2; осциллограф ЕО - 213; осциллограф ЕО-213; осциллограф ЕО-213; прибор ИЛД-2; самописец "Эндим"; самописец "Эндим"; самописец 02060; фотометр отражения ФО-1 УХЛ-4-2; экспозиметр коротких импульсов ЭКН (ЭКИ); бак эм.; блок питания Б5-44а; весы торсионные ВТ-500; Вольтметр В7-16; Генератор Г5-54; Источник высокочастотный TV-2; Источник питания "Агат"; Источник питания Статрон 3221; Лаб.стабилиз.источник питания ТЕС-18 НТР; Лаб.Энергетические временные и пространс; Лампа настольная; Микроскоп МБС-10; Микрофотометр ИФО-451; Монохроматор СДМС; Монохроматор УМ-2; Осциллограф ЕО-211; Осциллограф С1-48Б; Спектрофотометр СФ - 18; Стабилизатор 3217; Усилитель VL-103; Усилитель VL-103; Усилитель VL-103; Усилитель У5-9; Фотометр ФМП-02; Фотометр ФОУ-1; Учебные наглядные пособия: "Лабораторный практикум по оптике и лазерной физике в медицине"; "Оптика и лазерная физика в медицине. Оптические квантовые генераторы. Медицинские лазерные системы". |
| 002К | лаборатория физического материаловедения - учебная аудитория для проведения занятий семинарского типа (лабораторных и(или) практических); проведения групповых и индивидуальных консультаций, текущего контроля и промежуточной аттестации | Учебная мебель на 10 посадочных мест; рабочее место преподавателя; доски меловые 1шт. лазер ЛТИ502; лазер ЛТН-103; лазерная установка HTS 300; микроскоп металлографический Метам РВ-23; микроскоп НЕОФОТ -32; моноблок RAMEC Gale Custom G1610/ H61M-DG3/4 Гб ОЗУ/500 Гб НЖМД; насадка для микроскопа VEC-535 цветная в/к ПЗС-матрица 1/1,8" 1700ТВ лин 1,0Iuх; ноутбук Acer TM424WXMi Cel-M(380) 1,6GHz/14,1" WXGA/512Mb/60Gb/DVD-RW/LAN/Wlan b; оптико-электронная система (сканирующий зондовый микроскоп) Солвер Некст; проектор: Epson EMP-TW10H (V11H164040); системный блок Celeron 1000/128/FDD/HDD; системный блок P IV - 1800 Celeron/ 256 Mb/60 Gb/AGP 32/CD/Net/SB/SPK; термостат; установка "Дрон-3"; блок БВЦ 97-04; блок БГА-2-97; блок БПВ2-90; блок Д3У2-91; блок питания БНН-43; блок УВЦ-2-95; вакуумный пост универсальный ВУП-5; компьютер Intel Core i3-4160 3600MHz/HDD 1Tb/DDR3 DIMM 16Gb(2x8Db); компьютер Intel Core i3-4160 3600MHz/HDD 1Tb/DDR3 DIMM 16Gb(2x8Db); компьютер Intel Pentinm G3420 3200 MHz/DDR3 DIMM 4Gb/монитор 22"LG 22MP55HQ-P; компьютер Intel Pentinm G3420 3200 MHz/DDR3 DIMM 4Gb/монитор 22"LG 22MP55HQ-P; компьютер Intel Pentium G3420 3200MHz 3Mb/DDR3 DIMM 4Gb/монитор 22"LG 22MP55HQ-P; компьютер Intel Pentium G3420 3200MHz 3Mb/DDR3 DIMM 4Gb/монитор 22"LG 22MP55HQ-P; компьютер Intel Pentium G3420 3200MHz3Mb/DDR3 DIMM 4Gb/монитор 22"LG 22MP55HQ-P; микрокомпьютер Tandy 1000HX; монитор 15" RoverScan 115GS 0.28 TCO95; монитор 15" Samsung 550 S.28; монитор 17" Philips TFT; ноутбук ASUS BU401LG 14"HD,Ci7-4500U, 8192Mb,1Tb,GT730M-2Gb,WiFi, BT, Cam, W8Pro; ноутбук Asus K50IN (2,2GHz/4Gb/320Gb/DVD-RW/Bluetooth/факс-модем/веб камера; преобразователь акустической эмиссии; прибор АМА-0,2ф1; принтер HP LJ 1150; самописец 62201; система магнетронного напыления МАГ-2000; системный блок Celeron 733 INTEL; системный блок P - IV 3000MHz/Плата ЛА-2USB/АЦП ЛА-н150-14PCI; сканер HP SJ 6300; сканер ч/б; спектрофонометр 6ф-20; усилитель напряжения сигналов преобразователей акустической эмиссии; учебные наглядные пособия: "Лабораторные работы по физическому материаловедению"; "Специальный физический практикум по сканирующей зондовой микроскопии"" "Специальный физический практикум. Акустическая эмиссия в физике конденсированного состояния" |
| Основной целью при изучении дисциплины является стремление показать области применения и формирование у будущих специалистов теоретических знаний и практических навыков по использованию законов кристаллографии для широкого спектра задач в различных областях. Для эффективного изучения теоретической части дисциплины Кристаллографии необходимо: - построить работу по освоению дисциплины в порядке, отвечающим изучению основных этапов, согласно приведенным темам лекционного материала; - систематически проверять свои знания по контрольным вопросам и заданиям; - усвоить содержание ключевых понятий; - плотно работать с основной и дополнительной литературой по соответствующим темам. Для эффективного изучения практической части дисциплины «Кристаллографии» рекомендуется: - систематически выполнять подготовку к практическим занятиям по предложенным преподавателем тема и методическим указаниям ; - своевременно выполнять практические задания. - своевременно и систематически защищать результаты своих исследований. В течение семестра студенты выполняют: - домашние задания (Case-study - анализ конкретных ситуаций, ситуационный анализ), выполнение которых контролируется и обсуждается (групповое обсуждение)на практических занятиях или перед выполнением лабораторных работ (сократический диалог - подразумевающий постановку особых вопросов в процессе беседы, которые способствуют работе мышления, концентрации внимания, адекватной оценке текущей дискуссии и своей в ней роли); - промежуточные задания, во время практических занятий(в форме дискуссий, дебатов)для выявления знаний по основным элементам новых разделов теории; - обсуждают задания практических работ методом "Займи позицию", помогающем выяснить, какой спектр мнений может существовать по обсуждаемому вопросу и предоставляет возможность высказаться каждому, продемонстрировать различные мнения, а затем обосновать свою позицию, найти и выразить самые убедительные аргументы, сравнить их с аргументами других. |