МИНОБРНАУКИ РОССИИ
федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования
«Алтайский государственный университет»

Экспериментальные методы исследования
рабочая программа дисциплины

Закреплена за кафедройКафедра общей и экспериментальной физики
Направление подготовки03.03.02. Физика
Форма обученияОчная
Общая трудоемкость3 ЗЕТ
Учебный план03_03_02_Ф-3-2020
Часов по учебному плану 108
в том числе:
аудиторные занятия 42
самостоятельная работа 66
Виды контроля по семестрам
зачеты: 7

Распределение часов по семестрам

Курс (семестр) 4 (7) Итого
Недель 19
Вид занятий УПРПДУПРПД
Лекции 14 14 14 14
Лабораторные 18 18 18 18
Практические 10 10 10 10
Сам. работа 66 66 66 66
Итого 108 108 108 108

Программу составил(и):
д-р физ.-мат.наук, доцент, С.В. Макаров

Рецензент(ы):
канд.физ.-мат.наук, доцент, Д.Д. Рудер

Рабочая программа дисциплины
Экспериментальные методы исследования

разработана в соответствии с ФГОС:
Федеральный государственный образовательный стандарт высшего образования по направлению подготовки 03.03.02 ФИЗИКА (уровень бакалавриата) (приказ Минобрнауки России от 07.08.2014г. №937)

составлена на основании учебного плана:
03.03.02 Физика
утвержденного учёным советом вуза от 30.06.2020 протокол № 6.

Рабочая программа одобрена на заседании кафедры
Кафедра общей и экспериментальной физики

Протокол от 15.06.2020 г. № 11
Срок действия программы: 2020-2021 уч. г.

Заведующий кафедрой
д-р физ.-мат. наук, профессор Плотников Владимир Александрович

Визирование РПД для исполнения в очередном учебном году

Рабочая программа пересмотрена, обсуждена и одобрена для
исполнения в 2020-2021 учебном году на заседании кафедры

Кафедра общей и экспериментальной физики

Протокол от 15.06.2020 г. № 11
Заведующий кафедрой д-р физ.-мат. наук, профессор Плотников Владимир Александрович

1. Цели освоения дисциплины

1.1.Дисциплина «ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНЫЫЕ МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЙ» обеспечивает приобретение знаний в соответствии с государственным образовательным стандартом, содействует фундаментализации образования и развитию логического мышления.Основная задача дисциплины - формирование у студентов навыков работы на установках.
Целью преподавания дисциплины является ознакомление студентов с основными методами и приборами для из-мерений физических параметров, методами анализа и обработки экспериментальных данных, а также формирование у студентов навыков работы на установках.

2. Место дисциплины в структуре ООП

Цикл (раздел) ООП: Б1.В.ДВ.03

3. Компетенции обучающегося, формируемые в результате освоения дисциплины

ПК-1: способностью использовать специализированные знания в области физики для освоения профильных физических дисциплин
ПК-2: способностью проводить научные исследования в избранной области экспериментальных и (или) теоретических физических исследований с помощью современной приборной базы (в том числе сложного физического оборудования) и информационных технологий с учетом отечественного и зарубежного опыта
В результате освоения дисциплины обучающийся должен
3.1.Знать:
3.1.1.об основных методах и приборах для измерений физических параметров;
о методах анализа и обработки экспериментальных данных.
3.2.Уметь:
3.2.1.Знать: физические принципы, положенные в основу методов исследования и работы измерительных приборов, основные методы измерений теплофизических параметров веществ, изучения поверхности твердых тел, характеристики и принцип действия измерительных установок, методы анализа и обработки экспериментальных данных.
Уметь: пользоваться обширным справочным материалом по методам, приборам и датчикам для измерений теплофизических параметров, микроскопического и спектроскопического анализа состава и свойств поверхности наноматериалов, для использования их в конкретных экспериментальных условиях, планировать измерительый эксперимент так, чтобы точность измерений соответствовала поставленной цели, учитывать возможность систематических ошибок и принимать меры к их устранению, анализировать результаты измерений и делать правильные выводы.
3.3.Иметь навыки и (или) опыт деятельности (владеть):
3.3.1.умение планировать и организовывать эксперимент;
умение выбирать методы и средства измерений в соответствии со стандартами (техническими регламен-тами) и анализировать полученные результаты;
умение пользоваться приборами и оборудованием;
умение осуществлять выбор материалов для изделий различного назначения с учетом эксплуатационных требований.

4. Структура и содержание дисциплины

Код занятия Наименование разделов и тем Вид занятия Семестр Часов Компетенции Литература
Раздел 1. Введение в дисциплину. Метрология: основные понятия и термины. Эталоны единиц системы СИ
1.1. Методы познания. Важнейшие признаки научного познания. Физические свойства, величины и шкалы. Физические величины. Системы физических величин и их единиц Лекции 7 2 ПК-1 Л1.1, Л2.1, Л2.2, Л1.2, Л1.3, Л2.3, Л2.4
1.2. Методы познания. Важнейшие признаки научного познания. Физические свойства, величины и шкалы. Физические величины. Системы физических величин и их единиц Практические 7 4 ПК-1, ПК-2 Л2.1, Л1.2, Л1.3, Л2.3, Л2.4
1.3. Введение в дисциплину. Метрология: основные понятия и термины. Эталоны единиц системы СИ Лабораторные 7 2 ПК-1, ПК-2 Л2.1, Л1.2, Л1.3, Л2.3, Л2.4
1.4. Введение в дисциплину. Метрология: основные понятия и термины. Эталоны единиц системы СИ Сам. работа 7 12 ПК-1, ПК-2 Л2.1, Л1.2, Л1.3, Л2.3, Л2.4
Раздел 2. Физические приборы
2.1. Классификация приборов по назначению, отраслям назначения и систематизация приборов по принципу дей-ствия. Конструктивное оформление приборов. Классификация экспериментальных методов исследования: ап-паратура для экспериментальных исследований; сведения об основных типах стандартных измерительных приборов и устройств. Лекции 7 2 ПК-2 Л2.1, Л1.2, Л1.3, Л2.3, Л2.4
2.2. Классификация приборов по назначению, отраслям назначения и систематизация приборов по принципу дей-ствия. Конструктивное оформление приборов. Классификация экспериментальных методов исследования: ап-паратура для экспериментальных исследований; сведения об основных типах стандартных измерительных приборов и устройств. Практические 7 2 ПК-2 Л2.1, Л1.2, Л1.3, Л2.3, Л2.4
2.3. Физические приборы Лабораторные 7 4 ПК-1, ПК-2 Л2.1, Л1.2, Л1.3, Л2.3, Л2.4
2.4. Физические приборы Сам. работа 7 12 ПК-1, ПК-2 Л2.1, Л1.2, Л1.3, Л2.3, Л2.4
Раздел 3. Методы измерения механических величин
3.1. Методы измерения линейных величин. Методы измерения угловых величин. Методы определения поверхно-сти, расхода и временных промежутков. Экспериментальные методы измерения угловых скоростей. Методы измерения колебаний, сил и моментов инерции Лекции 7 4 ПК-1 Л2.1, Л1.2, Л1.3, Л2.3, Л2.4
3.2. Методы измерения линейных величин. Методы измерения угловых величин. Методы определения поверхно-сти, расхода и временных промежутков. Экспериментальные методы измерения угловых скоростей. Методы измерения колебаний, сил и моментов инерции Практические 7 2 ПК-2 Л2.1, Л1.2, Л1.3, Л2.3, Л2.4
3.3. Методы измерения механических величин Лабораторные 7 2 ПК-1, ПК-2 Л2.1, Л1.2, Л1.3, Л2.3, Л2.4
3.4. Методы измерения механических величин Сам. работа 7 12 ПК-1, ПК-2 Л2.1, Л1.2, Л1.3, Л2.3, Л2.4
Раздел 4. Методы изучения поверхности
4.1. Сканирующая зондовая микроскопия, основные принципы и узлы (пьезосканеры, зонды, система обратной связи). Основные методы зондовой микроскопии. Сканирующая туннельная микроскопия и спектроскопия. Атомно-силовая (сканирующая силовая) микроскопия. Кантилеверы, их взаимодействие с поверхностью. Силовая спектроскопия. Работа атомносилового микроскопа в контактной, неконтактной, полуконтактной модах, микроскопии латеральных сил, фазового контраста, растекания. Методы неконтактной зондовой микроскопии и зондовой литографии. Методы электросиловой, емкостной, Кельвина, магнитно-силовой микроскопии. Ближнепольный опти-ческий микроскоп. Сканирующая зондовая литография. Фотоэлектронная спектроскопия (РФЭС и УФЭС). Принципы, оборудование (источники излучения, энергоана-лизаторы), практика применения.Оже-электронная спектроскопия и микроскопия. Послойный анализ с помощью ОЭС, РФЭС. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Рентгеновская спектроскопия поглощения (EXAFS, XANES). Лекции 7 2 ПК-1 Л2.1, Л1.2, Л1.3, Л2.3, Л2.4
4.2. Методы изучения поверхности Лабораторные 7 2 ПК-1, ПК-2 Л2.1, Л1.2, Л1.3, Л2.3, Л2.4
4.3. Методы изучения поверхности Сам. работа 7 10 ПК-1, ПК-2 Л2.1, Л1.2, Л1.3, Л2.3, Л2.4
Раздел 5. Основы анализа экспериментальных данных.
5.1. Классификация ошибок измерений. Почему так важно оценить ошибку измерений? Классификация ошибок. Грубые ошибки. Систематические ошибки. Причины возникновения систематических ошибок Случайные ошибки. Лекции 7 2 ПК-1 Л2.1, Л1.2, Л1.3, Л2.3, Л2.4
5.2. Классификация ошибок измерений. Почему так важно оценить ошибку измерений? Классификация ошибок. Грубые ошибки. Систематические ошибки. Причины возникновения систематических ошибок Случайные ошибки. Практические 7 2 ПК-2 Л2.1, Л1.2, Л1.3, Л2.3, Л2.4
5.3. Основы анализа экспериментальных данных. Лабораторные 7 4 ПК-1, ПК-2 Л2.1, Л1.2, Л1.3, Л2.3, Л2.4
5.4. Основы анализа экспериментальных данных. Сам. работа 7 10 ПК-1, ПК-2 Л2.1, Л1.2, Л1.3, Л2.3, Л2.4
Раздел 6. Логика эксперимента. Эксперимент и здравый смысл.
6.1. Роль эксперимента в физике. Логика эксперимента. Эксперимент и здравый смысл. Лекции 7 2 ПК-1 Л2.1, Л1.2, Л1.3, Л2.3, Л2.4
6.2. Логика эксперимента. Эксперимент и здравый смысл. Лабораторные 7 4 ПК-1, ПК-2 Л2.1, Л1.2, Л1.3, Л2.3, Л2.4
6.3. Логика эксперимента. Эксперимент и здравый смысл. Сам. работа 7 10 ПК-1, ПК-2 Л2.1, Л1.2, Л1.3, Л2.3, Л2.4

5. Фонд оценочных средств

5.1. Контрольные вопросы и задания
1. Элементы кристаллографии и структура твердых тел.
2. Точечные дефекты и дислокации.
3. Диаграмма «напряжение – деформация». Закон Гука. Пластичность, хрупкость, прочность, твердость.
4. Физические основы методов измерений характеристик твѐрдых тел.
5. Химическая связь в кристаллах.
6. Основные положения квантовой физики. Электронный газ в металлах. Функция Ферми.
7. Зонная теория твѐрдых тел. Металлы, диэлектрики и полупроводники в свете зонной теории твѐрдых тел.
8. Виды и строение диэлектриков. Диэлектрики в электрическом поле. Поляризационные явления: Диэлектрическая проницаемость. Электрический пробой твѐрдых диэлектриков. Пьезоэлектрики. Диэлектрики в технике.
9. Электропроводность металлов с точки зрения классической и квантовой физики. Зависимость электропроводности от температуры.
10. Контактные явления в металлах (работа выхода, контактная разность потенциалов, термопара).
11. Собственные, донорные и акцепторные полупроводники. Собственная и примесная электропроводность. Температурная зависимость электропроводности от температуры.
12. Измерение ширины запрещенной зоны.
13. Электронно-дырочный переход и его практическое использование (выпрямление переменного тока.
14. Физические основы работы биполярных и полевых транзисторов).
15. Термоэлектрические явления в полупроводниках (эффекты Зеебека, Пельтье) и их практическое использование.
16. Эффект Холла.
17. Природа магнетизма: пара-, диа- и ферромагнетизм. Домены, петля гистерезиса, температура Кюри.
18. Характеристики магнитотвердых и магнитомягких материалов.
19. Структура ферритов; области их использования.
20. Использование магнитных материалов в компьютерной технике.
5.2. Темы письменных работ (эссе, рефераты, курсовые работы и др.)
1. Кристаллические и аморфные тела.
2. Ковалентная связь.
3. Ван-дер-Ваальсово взаимодействие.
4. Ионная связь. Постоянная Маделунга.
5. Водородная и металлическая связи.
6. Операции точечной симметрии (центр инверсии, плоскость симметрии).
7. Операции точечной симметрии (поворотные и инверсионные оси).
8. Взаимодействие операций симметрии. 32 класса точечной симметрии.
9. Решетка трансляций кристаллов. 14 типов решеток Бравэ.
10. Операции пространственной симметрии. 230 пространственных групп симметрии.
11. Основы теории дифракции рентгеновского излучения на кристалле.
12. Условия Лауэ.
13. Понятие обратной решетки.
14. Методы Лауэ и вращения.
15. Рентгенография поликристаллов.
16. Продольные волны в одномерном одноатомном кристалле.
17. Фононная модель тепловых колебаний. Температура Дебая.
18. Тепловое расширение и теплопроводность твердых тел.
19. Теплоемкость твердых тел.
20. Фазовая проблема РСА.
21. Прямые методы расшифровки кристаллических структур.
22. Паттерсоновские методы расшифровки кристаллических структур.
23. Принцип плотной упаковки. Плотнейшие упаковки шаров.
24. Метод дискретного моделирования упаковок молекул в кристаллах.
25. Энергетические зоны кристалла.
26. Образование энергетических зон в упрощенной модели кристалла.
27. Зонная теория проводимости (проводники и диэлектрики)
28. Зонная теория проводимости (полупроводники)
29. Классическая электронная теория проводимости металлов.
30. Квантовая статистика электронов проводимости.
31. Сверхпроводимость.
32. Диамагнетизм и парамагнетизм.
33. Ферромагнетизм.
34. Кристаллические и аморфные тела.
5.3. Фонд оценочных средств
см. приложение (ФОС)
Приложения

6. Учебно-методическое и информационное обеспечение дисциплины

6.1. Рекомендуемая литература
6.1.1. Основная литература
Авторы Заглавие Издательство, год Эл. адрес
Л1.1 Д.В. Фомин Экспериментальные методы физики твердого тела [Электронный ресурс]: учебное пособие Москва ; Берлин : Директ-Медиа, 2014 http://biblioclub.ru/index.php?page=book&id=259074
Л1.2 Гуртов В. А. , Осауленко Р. Н. Физика твердого тела для инженеров [Электронный ресурс]: учебное пособие М.: Техносфера, 2012 http://biblioclub.ru/index.php?page=book_red&id=233466&sr=1
Л1.3 Золоторевский Н.Ю., Рыбин В.В. Материаловедение. Фрагментация и текстурообразование при деформации металлических материалов [Электронный ресурс]: Учебное пособие для вузов М. : Юрайт, 2018 https://biblio-online.ru/book/38965EE0-524E-4623-9CD8-7DB161504DB3
6.1.2. Дополнительная литература
Авторы Заглавие Издательство, год Эл. адрес
Л2.1 Калин Б.А. Физическое материаловедение. Т.3. Методы исследования стркукурно-фазового состояния материалов [Электронный ресурс]: учебник для вузов : в 6-х т. М. : МИФИ, 2008 http://biblioclub.ru/index.php?page=book&id=237979
Л2.2 Епифанов И.Г. Физика твердого тела [Электронный ресурс] : учебное пособие СПб.:Лань, 2011 https://e.lanbook.com/reader/book/2023/#2
Л2.3 Кудреватых Н.В., Волегов А.С. Физика металлов. Редкоземельные металлы и их соединения [Электронный ресурс]: учебное пособие для вузов М. : Юрайт, 2018 https://biblio-online.ru/book/C0217026-048D-4EE2-8000-394338FF4449
Л2.4 Вознесенский, Э.Ф., Шарифуллин Ф.С., Абдуллин И.Ш. Методы структурных исследований материалов. Методы микроскопии [Электронный ресурс]: учебное пособие Казань : Издательство КНИТУ, 2014 http://biblioclub.ru/index.php?page=book&id=428294
6.2. Перечень ресурсов информационно-телекоммуникационной сети "Интернет"
Название Эл. адрес
Э1 ЭБС "Лань" http://e.lanbook.com
Э2 Интернет-портал "Университетская библиотека онлайн" http://biblioclub.ru
Э3 ЭБС "Юрайт" http://www.biblio-online.ru
6.3. Перечень программного обеспечения
Microsoft Windows7, №лицензии 60674416 (бессрочная)
Microsoft Office 2010 №лицензии 60674416 (бессрочная)
Microsoft Windows7, №лицензии 60674416 (бессрочная)
Microsoft Office 2010 №лицензии 60674416 (бессрочная)
OriginLab Origin Pro 8.0 (OriginLab), 2008-2012 г. - бесплатный софт
MatLAB 7 (MathWorks), 2010-2012 г. - бесплатный софт
MathCAD 14/15 (Parametric Technology Corporation), 2007-2012 гг. - бесплатный софт
Mathematica (Wolfram Research, Inc www.wolfram.com.)- бесплатный софт
Google SketchUp - бесплатный софт
3DCrafter - бесплатный софт
Art of Illusion - бесплатный софт
Creo Elements / Direct - ранее CoCreate - бесплатный софт
DrawPlus Starter Edition - бесплатный софт
FreeCAD - бесплатный софт
GLC Player - бесплатный софт
Netfabb Studio Basic - бесплатный софт
K-3D - бесплатный софт
OpenSCAD - бесплатный софт
Tinkercad - бесплатный софт
AutoCAD 2016 - бесплатный софт
Google SketchUp 2016 2016 16.0.19911 - бесплатный софт
6.4. Перечень информационных справочных систем
www.gpntb.ru/ Государственная публичная научно-техническая библиотека.
www.nlr.ru/ Российская национальная библиотека.
www.nns.ru/ Национальная электронная библиотека.
www.rsl.ru/ Российская государственная библиотека.
http://www.biblioclub.ru/ интернет-портал «Университетская библиотека онлайн»
www.tests.specialist.ru/ Центр компьютерного обучения МГТУ им. Н.Э.Баумана.
www.intuit.ru/ Образовательный сайт

7. Материально-техническое обеспечение дисциплины

Аудитория Назначение Оборудование
Помещение для самостоятельной работы помещение для самостоятельной работы обучающихся Компьютеры, ноутбуки с подключением к информационно-телекоммуникационной сети «Интернет», доступом в электронную информационно-образовательную среду АлтГУ
001вК склад экспериментальной мастерской - помещение для хранения и профилактического обслуживания учебного оборудования Акустический прибор 01021; виброизмеритель 00032; вольтметр Q1202 Э-500; вольтметр универсальный В7-34А; камера ВФУ -1; компьютер Турбо 86М; масспектрометр МРС -1; осциллограф ЕО -213- 2 ед.; осциллограф С1-91; осциллограф С7-19; программатор С-815; самописец 02060 – 2 ед.; стабилизатор 3218; терц-октавный фильтр 01023; шкаф вытяжной; шумомер 00026; анализатор АС-817; блок 23 Г-51; блок питания "Статрон" – 2 ед.; блок питания Ф 5075; вакуумный агрегат; весы; вольтметр VM -70; вольтметр В7-15; вольтметр В7-16; вольтметр ВУ-15; генератор Г-5-6А; генератор Г4-76А; генератор Г4-79; генератор Г5-48; датчик колебаний КВ -11/01; датчик колебаний КР -45/01; делитель Ф5093; измеритель ИМП -2; измеритель параметров Л2-12; интерферометр ИТ 51-30; источник "Агат" – 3 ед.; источник питания; источник питания 3222; источник питания ЭСВ -4; лабораторная установка для настройки газовых лазеров; лазер ЛГИ -21; М-кальк-р МК-44; М-калькул-р "Электроника"; магазин сопротивления Р4075; магазин сопротивления Р4077; микроскоп МБС -9; модулятор МДЕ; монохроматор СДМС -97; мост переменного тока Р5066; набор цветных стекол; насос вакумный; насос вакуумный ВН-01; осциллограф С1-31; осциллограф С1-67; осциллограф С1-70; осциллограф С1-81; осциллоскоп ЕО -174В – 2 ед.; пентакта L-100; пирометр "Промень"; пистонфон 05001; преобразователь В9-1; прибор УЗДН -2Т; скамья оптическая СО 1м; спектограф ДФС -452; спектограф ИСП -51; стабилизатор 1202; стабилизатор 3217 – 4 ед.; стабилизатор 3218; стабилизатор 3222 – 3 ед.; станок токарный ТВ-4; усилитель мощности ЛВ -103 – 4 ед.; усилитель У5-9; центрифуга ВЛ-15; частотомер Ч3-54А; шкаф металлический; эл.двигатель; электродинамический калибратор 11032
Учебная аудитория для проведения занятий лекционного типа, занятий семинарского типа (лабораторных и(или) практических), групповых и индивидуальных консультаций, текущего контроля и промежуточной аттестации, курсового проектирования (выполнения курсовых работ), проведения практик Стандартное оборудование (учебная мебель для обучающихся, рабочее место преподавателя, доска, мультимедийное оборудование стационарное или переносное)
002К лаборатория физического материаловедения - учебная аудитория для проведения занятий семинарского типа (лабораторных и(или) практических); проведения групповых и индивидуальных консультаций, текущего контроля и промежуточной аттестации Учебная мебель на 10 посадочных мест; рабочее место преподавателя; доски меловые 1шт. лазер ЛТИ502; лазер ЛТН-103; лазерная установка HTS 300; микроскоп металлографический Метам РВ-23; микроскоп НЕОФОТ -32; моноблок RAMEC Gale Custom G1610/ H61M-DG3/4 Гб ОЗУ/500 Гб НЖМД; насадка для микроскопа VEC-535 цветная в/к ПЗС-матрица 1/1,8" 1700ТВ лин 1,0Iuх; ноутбук Acer TM424WXMi Cel-M(380) 1,6GHz/14,1" WXGA/512Mb/60Gb/DVD-RW/LAN/Wlan b; оптико-электронная система (сканирующий зондовый микроскоп) Солвер Некст; проектор: Epson EMP-TW10H (V11H164040); системный блок Celeron 1000/128/FDD/HDD; системный блок P IV - 1800 Celeron/ 256 Mb/60 Gb/AGP 32/CD/Net/SB/SPK; термостат; установка "Дрон-3"; блок БВЦ 97-04; блок БГА-2-97; блок БПВ2-90; блок Д3У2-91; блок питания БНН-43; блок УВЦ-2-95; вакуумный пост универсальный ВУП-5; компьютер Intel Core i3-4160 3600MHz/HDD 1Tb/DDR3 DIMM 16Gb(2x8Db); компьютер Intel Core i3-4160 3600MHz/HDD 1Tb/DDR3 DIMM 16Gb(2x8Db); компьютер Intel Pentinm G3420 3200 MHz/DDR3 DIMM 4Gb/монитор 22"LG 22MP55HQ-P; компьютер Intel Pentinm G3420 3200 MHz/DDR3 DIMM 4Gb/монитор 22"LG 22MP55HQ-P; компьютер Intel Pentium G3420 3200MHz 3Mb/DDR3 DIMM 4Gb/монитор 22"LG 22MP55HQ-P; компьютер Intel Pentium G3420 3200MHz 3Mb/DDR3 DIMM 4Gb/монитор 22"LG 22MP55HQ-P; компьютер Intel Pentium G3420 3200MHz3Mb/DDR3 DIMM 4Gb/монитор 22"LG 22MP55HQ-P; микрокомпьютер Tandy 1000HX; монитор 15" RoverScan 115GS 0.28 TCO95; монитор 15" Samsung 550 S.28; монитор 17" Philips TFT; ноутбук ASUS BU401LG 14"HD,Ci7-4500U, 8192Mb,1Tb,GT730M-2Gb,WiFi, BT, Cam, W8Pro; ноутбук Asus K50IN (2,2GHz/4Gb/320Gb/DVD-RW/Bluetooth/факс-модем/веб камера; преобразователь акустической эмиссии; прибор АМА-0,2ф1; принтер HP LJ 1150; самописец 62201; система магнетронного напыления МАГ-2000; системный блок Celeron 733 INTEL; системный блок P - IV 3000MHz/Плата ЛА-2USB/АЦП ЛА-н150-14PCI; сканер HP SJ 6300; сканер ч/б; спектрофонометр 6ф-20; усилитель напряжения сигналов преобразователей акустической эмиссии; учебные наглядные пособия: "Лабораторные работы по физическому материаловедению"; "Специальный физический практикум по сканирующей зондовой микроскопии"" "Специальный физический практикум. Акустическая эмиссия в физике конденсированного состояния"

8. Методические указания для обучающихся по освоению дисциплины

Основной целью при изучении дисциплины является стремление показать области применения и формирование у будущих специалистов теоретических знаний и практических навыков по использованию законов кристаллографии для широкого спектра задач в различных областях.
Для эффективного изучения теоретической части дисциплины Кристаллографии необходимо:
- построить работу по освоению дисциплины в порядке, отвечающим изучению основных этапов, согласно приведенным темам лекционного материала;
- систематически проверять свои знания по контрольным вопросам и заданиям;
- усвоить содержание ключевых понятий;
- плотно работать с основной и дополнительной литературой по соответствующим темам.
Для эффективного изучения практической части дисциплины «Кристаллографии» рекомендуется:
- систематически выполнять подготовку к практическим занятиям по предложенным преподавателем тема и методическим указаниям ;
- своевременно выполнять практические задания.
- своевременно и систематически защищать результаты своих исследований.
В течение семестра студенты выполняют:
- домашние задания (Case-study - анализ конкретных ситуаций, ситуационный анализ), выполнение которых контролируется и обсуждается (групповое обсуждение)на практических занятиях или перед выполнением лабораторных работ (сократический диалог - подразумевающий постановку особых вопросов в процессе беседы, которые способствуют работе мышления, концентрации внимания, адекватной оценке текущей дискуссии и своей в ней роли);
- промежуточные задания, во время практических занятий(в форме дискуссий, дебатов)для выявления знаний по основным элементам новых разделов теории;
- обсуждают задания практических работ методом "Займи позицию", помогающем выяснить, какой спектр мнений может существовать по обсуждаемому вопросу и предоставляет возможность высказаться каждому, продемонстрировать различные мнения, а затем обосновать свою позицию, найти и выразить самые убедительные аргументы, сравнить их с аргументами других.