Оптико-электронная система измерения поверхности дефектов(сканирующий зондовый микроскоп) Солвер Некст

         

Назначение

Сканирующий зондовый микроскоп Solver NEXT предназначен для измерений трехмерной топологии и параметров микрорельефа поверхности конденсированных сред с атомарным разрешением. Применяется для исследования фармацевтических и  микробиологических объектов, полимеров, продуктов генной инженерии,  наноструктурных, композиционных и других материалов. Изображение представляется в виде электронной фотографии.

Технические характеристики
Размер до 20 мм в диаметре, до 10 мм в высоту
Масса до 100 гр
Тип сканирования образцом
Область сканирования 100x100x10 мкм (с датчиками обратной связи)
3x3x2 мкм в режиме высокого разрешения
Нелинейность, XY 0.1 % (с датчиками обратной связи)
https://www.asu.ru/?v=sw0